Mikroskop Atomskih Sila (MAS) (engl. Atomic Force Microscope, AFM) ili skenirajući mikroskop sila (engl. Scanning Force Microscope, SFM) je uređaj koji pripada porodici mikroskopa sa skenirajućom sondom (Scanning Probe Microscope - SPM) čiji se rad zasniva na mjerenju međumolekularnih sila koje djeluju između atoma mjerne sonde i atoma ispitivanog uzorka.
Mjerenje se sprovodi od tačke do tačke, nakon čega se podaci iz svih ispitanih tačaka prikupljaju u snimak ispitivane površine.
Tehnologija koja je prethodila mikroskopiji atomskih sila je Skenirajuća tunelska mikroskopija (engl. Scanning Tunneling Microscopy, STM) čiji se rad zasniva na kvantno-mehaničkom efektu tuneliranja elektrona kroz dielektrik.
Ovom, danas izuzetno uspješnom tehnologijom vizualizacije, postignuta je rezolucija snimanja od nekoliko pikometara, čime je omogućeno snimanje uzoraka u atomskoj rezoluciji. Današnja optička i elektronska mikroskopija su na pragu dostizanja ovako visoke rezolucije. U budućnosti se očekuje dalji razvoj obija novih tehnologija, tako da će biti moguće rutinsko snimanje u atomskoj rezoluciji.[1]
© MMXXIII Rich X Search. We shall prevail. All rights reserved. Rich X Search